AD4854 是一款完全缓冲、4 通道同时采样、20 位、1MSPS 数据采集系统 (DAS),具有差分、宽共模范围输入。
AD4854 采用 5V 低压电源和灵活的输入缓冲电源供电,并使用精密低漂移内部基准和基准缓冲器,允许每个通道的 SoftSpan 范围独立配置,以匹配应用信号摆幅,从而最大限度地减少额外的外部信号调节。为了进一步最大化单次转换动态范围,AD4854 采用了无缝高动态范围 (SHDR) 技术。通道的输入信号路径增益使能后会逐个样本地自动优化,从而在不影响线性度的情况下,尽可能地降低每个样本上的转换器噪声。
AD4854 的 11MHz 带宽、皮安输入模拟缓冲器、宽输入共模范围和 120dB 共模抑制比 (CMRR) 允许 DAS 直接数字化 INx+ 和 INx 上具有任意摆幅的输入信号−。AD4854 不仅提供输入信号灵活性,而且具有 ±160μV 积分非线性 (INL)、20 位无失码特性、97.2dB 信噪比 (SNR) 和 111.4dB 动态范围,使其非常适用于需要在紧凑的解决方案中实现高准确性、吞吐量和精度的应用。使能 24 位过采样可进一步改善 SNR 和动态范围。可选的每个通道偏移、增益和相位调整可以校准和消除 DAS 上游的系统级错误。
AD4854 具有串行外围接口 (SPI) 寄存器配置总线(0.9 V 至 5.25 V),并支持低压差分信号总线 (LVDS) 和互补金属氧化物半导体 (CMOS) 转换数据输出总线,可使用 LVDS/CMOS 引脚进行选择。在 CMOS 模式下可采用一至四条数据输出线,从而允许用户优化总线宽度和吞吐量。
AD4854 的 7.00mm × 7.00mm、64 球球栅阵列 (BGA) 包括所有关键电源和参考旁路电容器,最大限度地减少了整个解决方案的尺寸和元件数量,并降低了对应用印刷电路板 (PCB) 布局的敏感性。器件工作温度范围为 −40°C 至 +125°C 的扩展工业温度范围。
请注意,在整个数据表中,LVDS/CMOS 等多功能引脚要么采用整个引脚名称来表示,要么采用引脚的单一功能来表示。例如,当仅该功能相关时,LVDS。
关键特性和优势
- 完整的 20 位数据采集系统
- 4 个内部缓冲通道同时采样
- 每通道 1MSPS 吞吐量
- 差分、宽共模范围输入
- 25°C 时典型输入泄漏为 ±75pA
- 满量程输入阶跃校正时间 <>
- 集成基准和基准缓冲器 (4.096V)
- 集成电源去耦电容
- 1MSPS 时每通道 57mW,功率随吞吐量变化
- 极少的外部信号调理
- 无缝高动态范围
- 每样本、每通道自动增益范围
- 保持 ppm 级 INL
- 每通道 SoftSpan 输入范围,双极或单极
- ±40V、±25V、±20V、±12.5V、±10V、±6.25V、±5V、±2.5V
- 0V 至 40V、25V、20V、12.5V、10V、6.25V、5V、2.5V
- 轨到轨输入过驱容差
- 高性能
- INL:±160μV 典型值(±40 V 范围)
- 信噪比:97.2dB 单次转换典型值(±40V 范围)
- DR:111.4dB 单次转换典型值(±40V 范围)
- THD: −117dB 典型值(±40V 范围)
- CMRR:120dB(典型值)
- 数字灵活性
- SPI CMOS(0.9V 至 5.25V)和 LVDS 串行输入和输出
- 可选过采样,采用 16 位数字平均
- 可选偏移、增益和相位校正
- 7.00mm × 7.00mm,64 引脚 BGA 完整解决方案尺寸
应用
- 自动测试设备
- 航空电子和航空航天产品
- 仪器仪表和控制系统
- 半导体制造
- 测试与测量
评估板
AD4854 可使用 EVAL-AD4858 进行评估。
框图和表格


