Test e misurazioni elettronici ad alta velocità
Soluzioni e pacchetti per la nuova generazione di misurazioni rapide e precise
Con i progressi nella tecnologia delle comunicazioni, nei veicoli privati, nell'accumulo energetico, nelle interfacce uomo-macchina e nelle applicazioni IoT che consentono ai sensori di connettersi al cloud, la richiesta di capacità di misurazione più rapide e accurate è in aumento. Le soluzioni e i pacchetti di ADI consentono di realizzare applicazioni di test e misurazione elettroniche ad alta velocità di nuova generazione, come per il settore automobilistico e la rete 5G.
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AD3530R: DAC con uscita di tensione a 8 canali e 16 bit, riferimento su chip, SPI
I dispositivi AD3530/AD3530R sono convertitori da digitale ad analogico (DAC) a bassa potenza, 8 canali, 16 bit, con uscita di tensione bufferizzata. Includono controlli del guadagno programmabili tramite software che producono intervalli di uscita a gamma completa di 2,5 V o 5 V per una tensione di riferimento di 2,5 V.
AD8412A: gamma di tensione d'ingresso da -2 V a 50 V, larghezza di banda elevata di 1,8 MHz, amplificatore di rilevamento di corrente con reiezione PWM e guadagno di 10 V/V
L'AD8412A è un amplificatore di rilevamento della corrente ad alta tensione e ad alta larghezza di banda. Il dispositivo presenta un guadagno iniziale di 10 V/V, con una larghezza di banda di 1,8 MHz e un errore di guadagno massimo di ±0,11% sull'intero intervallo di temperatura.
In primo piano
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6 anni faAn Overview of How to Increase Performance and Reduce Size with Analog Device’s RFPLLs
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6 anni faL'importanza di reperire i giusti componenti passivi e discreti per un progetto SMPS
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6 anni faThe Architecture, Basics and Use of Phase Locked Loops
Explore the basic architecture and principal operation of phase-locked loops and their use in wired and wireless communication systems in this detailed article from Analog Devices.
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