AD4857: Muestreo simultáneo de 8 canales con búfer, DAS de 16 bits y 1 MSPS

El AD4857 funciona con un suministro de baja tensión de 5 V y suministros de búfer de entrada flexibles. Al utilizar la referencia interna y el búfer de referencia de baja deriva de precisión, el AD4857 permite que el rango SoftSpan de cada canal se configure de forma independiente para que coincida con la oscilación de la señal de la aplicación nativa, minimizando el acondicionamiento de señal externa adicional. Para maximizar aún más el rango dinámico de conversión única, el AD4857 incorpora tecnología de alto rango dinámico (SHDR) sin interrupciones. Cuando está habilitado, la ganancia de la ruta de la señal de entrada del canal se optimiza automáticamente muestra por muestra, minimizando el ruido del convertidor en cada muestra sin afectar la linealidad.

El ancho de banda de 11 MHz, los búferes analógicos de entrada de picoamperios, el amplio rango de entrada en modo común y la relación de rechazo en modo común (CMRR, por sus siglas en inglés) de 120 dB del AD4857 permiten al DAS digitalizar de manera directa señales de entrada con oscilaciones arbitrarias en INx+ e INx−. Su flexibilidad de señal de entrada, combinada con una no linealidad integral (INL, por sus siglas en inglés) de ±160 μV, sin códigos faltantes en 16 bits, una relación señal-ruido (SNR, por sus siglas en inglés) de 94,6 dB y un rango dinámico de 98,1 dB, hacen del AD4857 una opción ideal para aplicaciones que requieren gran exactitud, rendimiento y precisión en una solución compacta. La habilitación del sobremuestreo de 16 bits ofrece mejoras adicionales en la relación señal/ruido (SNR) y el rango dinámico. El ajuste opcional de compensación, ganancia y fase por canal proporciona la capacidad de calibrar y eliminar errores a nivel del sistema hasta el DAS.

El AD4857 cuenta con un bus de configuración de registro de interfaz periférica en serie (SPI, por sus siglas en inglés) (0,9 V a 5,25 V) y es compatible con buses de señales diferenciales de baja tensión (LVDS, por sus siglas en inglés) y buses de salida de datos de conversión de semiconductores de oxidación metálica complementaria (CMOS, por sus siglas en inglés), seleccionables mediante el uso del pin LVDS/CMOS. Entre una y ocho líneas de salida de datos se pueden emplear en modo CMOS, lo que permite al usuario optimizar el ancho y el rendimiento del bus.

La matriz de rejilla de bolas (BGA) de 64 bolas y 7,00 mm × 7,00 mm del AD4857 incluye todos los capacitores de derivación de referencia y fuente de alimentación críticos, lo que minimiza el espacio de la solución completa y el conteo de componentes y reduce la sensibilidad al diseño de la placa de circuito impreso (PCB) de la aplicación. El dispositivo funciona en un rango de temperatura industrial ampliado de −40 °C a +125 °C.

Tenga en cuenta que a lo largo de esta hoja de datos, los pines multifunción como LVDS/CMOS se mencionan por el nombre completo del pin o por una sola función del pin. Por ejemplo, LVDS cuando sólo esa función es relevante.



Características y beneficios clave

  • Sistema completo de adquisición de datos de 16 bits
  • Muestreo simultáneo de 8 canales con búfer interno
  • Rendimiento de 1 MSPS por canal
  • Entradas diferenciales con amplio rango en modo común
  • Fuga de entrada típica de ±75 pA a 25 °C
  • Tiempo de retorno a valores nominales del paso de entrada de escala completa < 300="">
  • Referencia integrada y búfer de referencia (4,096 V)
  • Capacitores de desacoplamiento de suministro integrados
  • 45 mW por canal a 1 MSPS, la potencia aumenta con el rendimiento
  • Mínimo acondicionamiento de señal externo
  • Alto rango dinámico sin interrupciones
  • Rango de ganancia automático por muestra y por canal
  • Mantiene INL a nivel de ppm
  • Rangos de entrada SoftSpan por canal, bipolar o unipolar
  • ±40 V, ±25 V, ±20 V, ±12,5 V, ±10 V, ±6,25 V, ±5 V, ±2,5 V
  • 0 V a 40 V, 25 V, 20 V, 12,5 V, 10 V, 6,25 V, 5 V, 2,5 V
  • Tolerancia de sobreexitación de entrada de riel a riel
  • Alto rendimiento
  • INL: ±160 μV típico (rango de ±40 V)
  • SNR: 94,6 dB conversión única típica (rango ±40 V)
  • DR: 98,1 dB típico de conversión única (rango de ±40 V)
  • THD: −117 dB típico (rango ±40 V)
  • CMRR: 120 dB típica
  • Flexibilidad digital
  • Entrada y salida en serie SPI CMOS (0,9 V a 5,25 V) y LVDS
  • Sobremuestreo opcional con promedio digital de 16 bits
  • Corrección opcional de compensación, ganancia y fase
  • Tamaño de solución completa BGA de 7,00 mm × 7,00 mm y 64 bolas


Usos

  • Equipo de prueba automático
  • Industria de aviación y aeroespacial
  • Instrumentación y sistemas de control
  • Fabricación de semiconductores
  • Pruebas y mediciones


Placa de evaluación

El AD4857 se puede evaluar con el EVAL-AD4857.



Diagramas de bloques y tablas






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