Dachung Kontaktstifte

Da-Chung Contact Probes, gegründet im Jahr 1988, mit Hauptsitz und Produktionsstätte in Neu-Taipeh, Taiwan. Wir bieten eine Produktlinie von ICT-Prüfnadeln, Hochstrom-Prüfnadeln, Prüfnadeln für unbestückte Leiterplatten, Halbleiter-Pogo-Pins sowie kundenspezifische Pins an.
Wir tragen durch die Entwicklung und Produktion der Prüfsonden in unserer automatisierten Produktionslinie dazu bei, qualitativ hochwertige und kosteneffiziente Produkte bereitzustellen.